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微程序控制器

模拟输入逻辑开关(控制信号)

GAL器件

实验电路

脉冲电路1

面包板

(逻辑元件实验区)

脉冲电路2

图1

实验仪中还设计了逻辑元件实验区,电源、脉冲产生电路分别提供了逻辑元件实验需求的电平和脉冲源,为做逻辑元件实验提供了完整的条件。

二、通用电路简介

1、通用操作部分

(1)31个逻辑开关AN1-AN31(见图2A)

ANi输出对应于开关设置的相应逻辑值,开关按下时为逻辑“1”。

常态时为逻辑“0”状态。

(2)31个电平显示电路(见图2B)

当输入高电平时,发光管显示亮,当输入端接地电平时,发光管不现示(灭)。

(3)三个脉冲电路(电路见图3)

每个电路的输出对应于三个输入端P+、P-。

每按下按钮,在相应得的输出端输出正、负脉冲个一个。

2、时钟电路(见图四)

提供一组方波信号发生器,输出频率F1为2MHZ.F2为1MHZ,F3为500KHZ,F4为250KHZ.此方波信号为实验时钟及产生时序信号的时钟。

3、时序发生器及启停电路(见图五)

MF为时钟输入端,时钟频率可为F1—F4中选择一个。

TJ、DP为单步停机控制信号,当某一或二个都为高电平“1”时,此时时序发生器处于停机或单步状态。

即每按一次启动按钮P0(P0和\P0已接入)产生一拍时序信号T1、T2、T3、T4。

当TJ、DP都为低电平时,按一次启动按钮P0,产生时序信号,\CLR接P2作清除按钮。

连续输出时序波形见图六所示。

T1、T2、T3、T4有两组输出信号,以提高负载能力。

三、控制信号引脚定义及说明

DICE-2型实验仪输入输出信号引线通过线路板已连接到插座上。

1.UA4—UA0。

微程序控制器的微地址输出信号,UA4为高位,UA0为低位。

此信号已接有指示灯,可监视微地址变化。

2.IR7—IR5。

指示寄存器的IR7、IR6、IR5输出信号,输入至为程序控制器修改微地址的信号。

3.F1—F4。

时钟输出信号端,F1输出频率为2MHZ,F2输出频率为1MHZ,F3输出频率为500KHz,F4输出频率为250KHz。

4.T1—T4。

时序信号发生器提供的四个标准时序输出信号,可以采用单拍或连续两种方式输出。

5.S3—S0。

由微程序控制器输出的ALU操作选择信号,以控制执行16种算术操作或16种逻辑操作中的一种操作。

6.M。

微程序控制器输出的ALU操作方法选择信号端。

M=0执行算术操作;

M=1执行逻辑操作。

7.。

微程序控制器输出的进位标志信号。

=0表示ALU运算时最低位加进位1;

=1,表示无进位。

8.SWE。

微程序控制器的微地址修改信号。

SWE已接逻辑开关,先按下清零,使微地址全为0时,将逻辑开关从“1”→“0”→“1”(相当于负脉冲),微地址修改为10000,使机器处于写RAM微程序。

9.SRD。

SRD已接逻辑开关,先按下清零键,使微地址全为0时,将逻辑开关从“1”→“0”→“1”(相当于负脉冲),微地址修改为01000,使机器处于读RAM的微程序。

10.CLR。

清零信号输出端,已连接单次脉冲P2按键中任一个。

11.LDAR。

微程序控制器的输入信号,将程序计数器的内容打入到地址寄存器AR中,产生RAM的地址。

12.CE。

微程序控制器输出的RAM片选信号,=0时RAM6116被选中。

13.WE。

微程序控制器输出的RAM读写控制信号,=0时,如WE=0为存储器读;

如WE=1为存储器写。

14.LDPC。

微程序控制器输出的PC加1信号。

15.LOAD。

微程序控制器的输出信号。

LOAD=0时,PC程序计数器处于并行置数状态;

LOAD=1时,PC处于计数状态。

16.。

微程序控制器输出信号,控制运算器的运算结果是否送到总线BUS,低电平有效。

17.。

18.。

微程序控制器输出信号,控制寄存器R0的内容是否送到总线BUS,低电平有效。

19.。

微程序控制器输出信号,控制八位数据开关SW7~SW0的开关量是否送到总线,低电平有效。

20.LDR0。

微程序控制器输出信号,控制把总线上的数据打入寄存器R0.

21.LDDR1。

微程序控制器输出信号,控制把总线上的数据打入运算暂存器DR1。

22.LDDR2。

微程序控制器输出信号,控制把总线上的数据打入运算暂存器DR2。

23.LDIR。

微程序控制器输出信号,控制把总线上的数据(指令)输出到指令寄存器IR中。

24.P

(1)。

微程序控制器输出的修改微地址P

(1)标志信号。

用于机器指令的微程序分支测试。

25.UP。

微程序控制器的微地址寄存器输出控制信号,UP=0,微地址信号输出。

26.MF。

时序发生器的时钟输入端,从F1、F2、F3、F4中任选一个。

27.P0、。

时序发生器启动控制信号,按一次P0时,时序发生器可输出一拍(单拍)或连续时续信号T1、T2、T3、T4。

28.TJ、DP。

时序发生器的停机单步控制信号端。

当DP为低电平时,按一次P0按键,产生连续时续信号T1、T2、T3、T4。

当DP为高电平时,时序发生器处于单拍状态,按一次P0,产生一拍(单拍)时序信号T1、T2、T3、T4。

TJ信号端已连接到微程序控制器产生的“自动停机”控制信号端。

29.P0、、P1、、P2、。

单次脉冲(按键)输出端。

P为正脉冲。

为负脉冲。

30.。

ALU的进位输出端,=0表示运算后有进位输出。

31.D7—D0。

八位数据通路的8条总线,D7为高位,A0为低位。

32.A7—A0.存储器RAM的地址输入信号,A7为高位,A0为低位。

33.SW7—SW0。

八位数据输入端,在有效时,将八位数据输入到总线。

34.。

控制发送数据信号,将寄存器R0的数据发送到总线上,低电位有效。

35.。

控制发送数据信号,将寄存器R1的数据发送到总线上,低电位有效。

36.。

控制发送数据信号,将寄存器R2的数据发送到总线上,低电位有效。

37.LDR1。

控制接收数据信号,将总线上的数据打入到寄存器R1.

38.LDR2。

控制接收数据信号,将总线上的数据打入到寄存器R2.

39.PC7—PC0。

程序计数器PC输出信号端,PC7为高电平,PC0为低电平。

此信号已连接到逻辑电平指示灯上,以监测PC值变化。

40.LDPC。

程序计数器PC计数控制信号,LDPC=1时,在时序信号上升沿到来时,程序计数器PC加1。

第二章实验指导

实验一运算器组成实验

一、实验目的

(1)掌握算术逻辑运算单元(ALU)的工作原理;

(2)熟悉简单运算器的数据传送通路;

(3)验证4位运算功能发生器(74LS181)的组合功能;

(4)按给定数据,完成几种指定的算术运算和逻辑运算。

二、实验电路

图7示出了本实验所用的运算器数据通路图。

运算器实验是在ALUUNIT单元电路上进行,控制信号、数据、时序信号由实验仪的逻辑开关电路和时序发生器提供,SW7—SW0八个逻辑开关用于产生数据,并发送到总线上。

DR1、DR2为运算暂存器,LDDR1、LDDR2为运算暂存器的输入控制信号,将总线上的数据输入到暂存器DR1、DR2;

通过S3S2S1S0MCn的选择,可实现对ALU算数操作和逻辑操作。

在控制信号作用下将运算结果送到总线BUS上。

S3,S2,S1,S0,M,,LDDR1,LDDR2,,各电位控制信号用二进制数据开关来模拟,其中,,为低电平有效。

LDDR1、LDDR2同T4信号进行定时。

当T4信号上升沿到来时,LDDR1、LDDR2才起作用。

三、实验设备

(1)DICE—2型计算机组成原理实验仪一台

(2)双踪示波器一台

(3)直流万用表一台

(4)逻辑测试笔一支

四、实验举例

实验前把TJ、DP对应的逻辑开关置成11状态(高电平输出),并预置下列逻辑电平状态,=1,=1,=1,=1,=1。

时序发生器处于单拍输出状态,实验是在单步状态下进行DR1,DR2的数据写入及运算,以便能清楚地看见每一步的运算过程。

实验步骤按表1进行。

实验时,对表中的逻辑开关进行操作置1或0,在对DR1、DR2存数时,按单次脉冲键P0(产生单拍T4信号)。

表1中带×

的为随机状态,它不管是高电平还是低电平,不影响运算器的操作。

总线D7~D0上接电平指示灯,显示参与运算的数据结果。

表中列出运算器实验任务的部分步骤,16种算数操作和16种逻辑操作只列出了前面4种,其它实验步骤同表4相同。

带↑的地方式按一次单次脉冲P0,无↑的地方则不要按单次脉冲P0。

图7运算器实验电路

T4

S3

S2

S1

S0

M

A3A2A1A0B3B2B1B0

Cn+4F3F2F1F0

ALU(74LS181)Cn

M

F3F2F1F0Cn

Cn+4ALU(74LS181)

三态门(74LS245)

数据显示灯D0~7

DR2(74LS273)

DR1(74LS273)

LDDR1

LDDR2

数据开关SW0~7

五、实验任务

(1)验证表4所列74LS181的算数运算与逻辑操作功能。

(2)下面给定了寄存器DR1和DR2的数据(十六进制表示)。

要求根据此数据,对照表4所得的理论分析值事先填入表2中,然后与实验结果值进行比较(采用正逻辑)

(3)表3列出了八种常用的算术运算与逻辑运算。

(4)要求按指定的操作内容,正确选择运算器数据通路、控制参数S3S2S1S0M,并将实验结果值填入括号内。

假设给定原始的DR1和DR2数据,以后的数据取自前面运算器的结果。

(5)测试进位延迟时间和求和延迟时间

为了测出最坏情况下的进位延迟时间,可

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