原子吸收分光光度法.docx
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原子吸收分光光度法
原子吸收分光光度法
原子吸收光谱法原子吸收光谱法1．原子吸收光谱法的基本原理1.1原子吸收光谱仪器的基本结构
（1）光源—发射待测元素的谱线；
（2）原子化器—产生待测元素的原子蒸气，有火焰、无火焰原子化器和氢化物原子化装置；（3）分光系统—分出待测元素谱线（一般是共振线）；（4）检测系统—将光信号转换为电信号、放大、检测、显示。
1.2原子吸收光谱法的基本原理原子吸收光谱法是原子对特征光吸收的一种相对测量方法。
它的基本原理是：
以一束特定的入射光强I0，投射至待测元素的基态原子蒸气，则此测元素的基态原子蒸气对入射的特征光产生吸收，未被吸收的部分透射过去。
待测元素浓度C越大，光的吸收量越多，其透射光强I越弱。
C、I0和I三者之间存在一定的关系。
假定频率为υ，强度为I0的光束透过厚度为ι的原子蒸气层后，光被吸收一部分，透过的光的强度I可用下式表示：
I=I0e-kvlA=logI0/I=kvιloge采用锐线光源时，可用峰值吸收系数k0代替吸收系数kv，A=logI0/I=0.4343k0ι；峰值吸收系数k0与待测元素原子浓度N呈线性关系，A=KNι；在给定原子化条件下，ι是定值；当原子化条件一定时，气态原子浓度N正比于溶液中待测元素浓度C，A=KC已知待测元素的标准溶液与试样的吸光度，就可求出试样中待测元素的含量。
2．特点2.1灵敏度高：
火焰法一般为μg/mL—ng/mL级，无焰法绝对灵敏度在10-10-10-14g之间。
2.2干扰小：
同化学分析法和发射光谱法比较，其谱线干扰小且易抑制。
2.3分析速度快：
干扰小、易于克服，因此，在复杂试样分析中，制备一份溶液，不经化学分离就能直接测定多元素。
2.4精密度好、准确度高：
光源的稳定性直接影响原子吸收仪器测量的精密度，不同元素的光源稳定性是不同的，因而精密度也不同。
一般：
单光束的精密度（变异系数）为0.2-2.0%，双光束更高一些；相对误差可控制在0.1-2.0%的范围内，性能良好的相对误差降至0.1-0.5%。
3．分析条件的选择3.1原子化器和原子化法的选择：
根据待测元素的含量及性质进行选择；有火焰、无火焰原子化器和氢化物原子化装置。
原子化器的作用是将样品中的待测元素转化为基态原子。
这个过程是原子吸收中最重要和关键的一环，原子吸收光谱中所有已知的非光谱干扰，都莫过于原子化过程的影响，即对所生成的基态原子数的影响。
在原子吸收光谱中，应用得最早、最广泛的是火焰原子化器，它适用于μg/mL—ng/mL级含量的测定；1970之后，石墨炉技术、氢化物发生器和冷原子化法对痕量和超痕量元素的测定显示出相当的重要性。
3.1.1火焰原子化系统：
由雾化器、雾化室、燃烧器、燃烧气和助燃气供给和气量调节装置组成火焰原子化系统。
适用于μg/mL—ng/mL级含量分析。
雾化器：
其作用是使试样溶液雾化，其性能是降低检出限的关键；性能好，雾化效率高，雾滴细，喷雾稳定，有利于在火焰中生成基态原子。
通常用耐腐蚀金属材料或玻璃材料加工而成。
雾化室：
一般由耐腐蚀金属材料、塑料或玻璃制成。
它的作用：
一是使助燃气、烧气及雾滴混合均匀；二是使雾滴均匀化，大雾滴下沉聚积由费液管排出。
理想的雾化室应具有雾化效率高，记忆效应小以及噪音低等条件。
表观雾化率：
ε=[（10-V）/10]*100%V—提升10ml水测得费液管排出的废液体积。
燃烧器：
燃烧器的作用是通过火焰燃烧使试样原子化。
燃烧气、助燃气及试样的雾状混合物由燃烧器喷出，燃烧形成火焰，在火焰温度和火焰气氛的作用下，试液气溶胶经干燥、蒸发、离解等过程产生大量的基态原子，以及部分激发态原子、离子和分子。
一个设计良好的燃烧器应具有原子化效率高、早身噪声小、火焰稳定的性能，以保证有较高的灵敏度和精密度。
3.1.2影响原子化效率的因素a.火焰的温度和组成。
是影响原子化效率诸因素中的主要因素。
实际分析中，提高火焰温度，使用还原性火焰和有机熔剂，是提高原子化效率的重要途径。
b.化学干扰的影响。
化学干扰是影响原子化效率的主要因素之一。
c.电离效应的影响。
元素的电离电位，火焰的温度、溶液的浓度及共存元素都影响电离效应，从而影响原子化效率。
d.传输过程的影响。
雾化器的提升率和雾化状态都会影响原子化效率。
3.1.3无火焰原子化系统（石墨炉原子化器）：
适用于痕量分析和超痕量分析。
无火焰原子化器的主要特点是：
a.检出限低。
注入的试样几乎可全部原子化，基态原子在光路中停留时间长，其检出限比火焰法低2—3个数量级，绝对检出限可达10-10—10-14g；b.分析用量少。
液体试样一般为5—100μl，固体试样为0.1—10mg，可直接分析固体、液体（包括混浊液和粘性液）及气体试样；c.具有较高且可调的原子化温度，可达3400℃。
d.还原气氛强，有利于易形成氧化物的元素的原子化；e.仪器装置复杂，操作条件较难控制，精密度和准确度均比火焰法差，有时记忆效应较为严重，背景吸收强。
3.1.4氢化物原子化器：
氢化物原子化法适用于在一定条件下能生成氢化物的元素（如As、Sb、Bi、Se、Te、Ge、Sn、Pb、Tl、In等元素）。
分为三个步骤：
a.在反应体系中将待测元素还原为氢化物气体；b.用载气（Ar或N2）将氢化物载入原子化器；c.氢化物在原子化器中生成基态原子。
氢化物原子化器的组成：
a.试样及各种反应试剂加入系统；b.反应器；c.载气；d.原子化器。
3.1.5冷原子化法：
仅适用于汞的测定（汞是唯一能在室温下以原子状态存在的金属元素）。
3.2分析谱线的选择：
选用不受干扰而且吸光度适度的谱线a.根据试样的组成和待测元素的浓度进行选择。
b.根据共存元素的干扰情况进行选择。
c.根据仪器条件进行选择。
选用不受干扰且吸光度适度的谱线为分析线。
3.3灯电流的选择：
空心阴极灯的发射特性依赖于灯电流。
为了得到较高的灵敏度和精密度就要适当选择灯电流。
就灵敏度而言，灯电流宜用小些。
灯电流小，谱线的多普勒变宽和自吸效应减小，发射线的半宽度变窄，灵敏度增高。
但灯电流太小，放电不稳定，光谱输出的稳定性差。
为了保证必要的信号输出，势必增宽狭逢，或者提高检测器的增益，这样，就会引起噪声增加，使谱线的信噪比降低，导致精密度降低。
如果从测定的稳定性着眼，比如常量和高含量分析，灯电流宜大些。
3.4狭缝宽度的选择：
狭缝宽度影响光谱通带宽度和检测器接受的光强度；而光谱通带宽度直接影响测定的灵敏度和标准曲线的线性范围。
选择狭缝宽度，既要考虑仪器的分辨率，又要照顾到光强度。
调窄狭缝，可改善实际分辨率，减少谱线干扰，得到线性较好工作曲线，对分析线附近有干扰线，或有非吸收线和背景发射很强的情况是有利的；但出射光强度降低，势必相应地提高灯电流或增加检测器增益，这又会使共振发射线变宽或使检测器噪音增大，使测定灵敏度下降。
调宽狭缝，出射光强度增加，检测器增益可减小，有利于提高信噪比，改善稳定度和检测限；但同时光谱通带宽度变宽，使单色器分辨率下降，而靠近分析线的其它干扰谱线可能不会被分离而进入检测器，同时火焰发射的连续背景也会进入检测器，从而导致灵敏度降低，标准曲线弯曲。
一般地，在光源辐射较弱，或者共振吸收线强度较弱，则应选择宽的狭逢宽度；当火焰的连续背景发射较强，或在吸收线附近有干扰谱线的非吸收线存在，则选择较窄的狭逢宽度。
3.5火焰原子化条件的选择：
火焰类型、火焰状态以及燃烧器的高度对火焰原子化有影响。
a.光束在氧化焰中通过：
这一高度大约是光束离燃烧器高度6-12mm之间。
这种高度的火焰比较稳定，温度较高，干扰较少，对紫外线的吸收较弱，但灵敏度稍低一些。
大多数元素，特别是吸收线在紫外区的元素，适用于这一高度。
b.光束在氧化焰和还原焰中通过：
这一高度大约是光束离燃烧器高度4-6mm之间。
这种高度的火焰比较a的稍差，温度稍低，干扰也较多，但灵敏度比a稍高。
适用于Be、Pb、Se、Sn、Cr等元素的分析。
c.光束在还原焰中通过：
这一高度大约是光束离燃烧器高度4mm以下。
这种高度的火焰稳定最差，干扰也较多，对紫外线的吸收最强，吸收灵敏度却最高。
适用于长波长段元素的分析。
4.干扰及消除方法4.1电离干扰:
电离电位在6eV左右和小于6eV的元素在火焰中容易电离。
碱金属和碱土金属在空气-乙炔火焰中的电离度（%）：
Li（5.2），Na（9.0），K（48.9），Rb（85.0），Cs（95.2），Be（ 消除方法：
在火焰中提供自由电子的其它易电离的元素，可使待测元素已电离的原子重新回到基态。
4.2物理干扰:
物理干扰是指引起吸样速率、雾化效率、熔剂蒸发、溶质挥发等过程引起的干扰。
主要是由试样与参比物质溶液的物理性质，如粘度、表面张力或溶液及溶液密度不同而引起的。
物理干扰属非选择性干扰，对试样溶液中各元素的影响基本上是相同的。
a.试样溶液的粘度有了变化，直接改变了进样速率。
b.吸收毛细管的直径、长度和浸入试样溶液的深度，也将影响进样速率。
c.试样溶液表面张力的变化，影响雾珠和气溶胶粒子大小与分布以及雾化效率。
d.熔剂的蒸气压也会影响试样溶液的蒸发速度和凝聚损失，导致进入火焰中的待测元素的原子数发生变化。
e.大量的基体元素的存在，它们在火焰中蒸发和离解时，不仅要消耗大量的热量，而且在蒸发过程中，有可能包裹待测元素，延缓待测元素的蒸发，影响待测元素的原子化效率。
盐类总含量大约超过1%时，不仅会影响雾化效率，还可能造成燃烧器缝隙的堵塞，改变燃烧器的工作特性。
物理干扰消除方法：
a.配制与待测试样溶液相似的标准溶液或标准加入法。
b.采用机械进样系统。
c.内标法消除物理干扰。
d.在非火焰原子吸收法中，为了防止待测元素在灰化阶段的挥发和共挥发损失，可以使用基体改良剂。
如：
硝酸溶液中的砷只能稳定在600℃，加入镍之后，可加热到1400℃。
硝酸溶液中的镉在500℃开始损失，加入氟化铵、硫酸铵或磷酸铵后生成相应的盐类，灰化温度可提高到900℃。
磷酸可稳定铅灰化温度高至1000℃而铅无损失。
4.3化学干扰及消除方法化学干扰是指试样溶液转化为自由基态原子的过程中，待测元素与其他组分之间的化学作用而引起的干扰，它主要影响待测元素化合物离解及原子化。
a.待测元素与共存元素之间形成热力学更稳定的化合物,使参与吸收的基态原子数减少。
如铝对镁、硅、磷酸根、硫酸根对Ca、Mg的干扰。
b.自由基态原子自发地与环境中的其它原子或基团反应形成稳定氧化物、氮氧化物、碳化物或氮化物。
Al、Si、B、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、U……消除方法：
a.提高火焰温度和改善火焰气氛。
b.加入释放剂。
释放剂是能与干扰元素形成更稳定的化合物而使待测元素释放出来的试剂。
加入的释放剂只有到一定量时才能起释放剂的作用。
c.加入保护剂。
常用的如保护剂主要是络合剂，其作用是使待测元素形成稳定的、不易离解的络合物，从而防止与干扰阴离子形成盐，待测元素进入火焰时具有络合剂的保护层，在火焰温度下，络合物被破坏使待测元素释放出来。
Al对Mg的干扰，加EDTA→Mg—EDTA、Al—EDTA。
d.加入缓冲剂。
在试样和标准溶液中都加入过量的干扰元素，当加入量达到一定量时，使干扰效应达到饱和点，即可消除和抑制干扰元素的影响。
e.改良基体。
利用标准加入法或配制与被测试样组成相似的标准样品来进行测定。
f.化学分离法。
4.4背景干扰a.分子吸收：
分子吸收干扰是指试样在原子化过程中形成的气体分子，氧化物，氢氧化物和盐类等这类分子对辐射吸收引起的干扰。
（1）碱金属的卤化物的分子吸收：
碱金属的卤化物在紫外区有很强的分子吸收，它干扰紫外区吸收线元素的测定；
（2）无机酸分子的吸收：
在250nm以下，硫酸、磷酸有很强的分子吸收并随浓度的增大而增大。
硝酸、盐酸的分子吸收很小，故而在原子吸收盐析中，大多采用硝酸和盐酸，尽量少用硫酸、磷酸。
（3）火焰气体分子吸收:
火焰中的半产物OH，CN，CH，C等可产生分子吸收，如OH出现在308.9~330.0nm，干扰Ba306.77nm测定，Ag328.07nm；OH281.13~306.3nm，干扰Mg285.21nm.测定。
火焰气体分子吸收与波长有关，波长越短，火焰气体分子吸收越强，在空气-乙炔火焰中波长小于230nm开始有明显的吸收。
在同类型火焰中，还原气氛浓的富燃火焰气体分子吸收干扰大。
b.光散射是指原子化过程中产生的固体微粒对入射光产生散射作用，被散射的光偏离光路，使检测器接受的光强减小，测得的吸光度偏高，造成假吸收。
c.扣除背景干扰的方法
（1）用空白溶液扣除背景。
配制不含待测元素的基体溶液进行空白溶液扣除背景，配制与试样基体组分近似的空白溶液，在相同的测定条件下，测定背景吸收值，从待测元素的总吸收值中扣除背景吸收，即得到待测元素的吸收值。
（2）非吸收线扣除背景。
（3）采用其他元素的吸收线扣背景。
（4）氘灯扣除背景。
空心阴极灯辐射（主光源）和背景校正器发射的连续光，通过一个旋转带有扇形镜的节光器，分别交替地通过原子化器、单色器、并交替进入同一检测器，电子测量系统可从两种辐射光的强度求出其比值。
被测元素的基态原子及背景吸收物对这两束光均产生吸收，而基态原子对连续辐射产生的吸收相对于连续光入射总强度可忽略不计。
即校正器的连续辐射通过原子化器时，所产生的吸收仅代表背景吸收，而空心阴极灯辐射通过原子化器时，所产生的吸收为原子吸收和背景吸收的加和。
（5）自吸扣除背景。
利用空心阴极灯的自吸变宽扣除背景。
以双脉冲方式供电给空心阴极灯，低电流脉冲时空心阴极灯产生的发射线测得的吸收值是原子吸收和背景吸收的信号之和，大电流脉冲时空心阴极灯产生稍有自吸的变宽谱线，这时测得吸收值主要是背景吸收。
（6）塞曼扣除背景。
塞曼效应是指在强磁场中光源发射线或吸收线发生分裂的现象。
当磁场加在辐射源时，称正向塞曼效应，这时发射原子的能级发生分裂。
当磁场加在原子化器时称反向塞曼效应，此时吸收原子的能级发生分裂，由于辐射源仍然发射原来的共振线，其辐射只能被分析物的л成分吸收而不被σ成分吸收。
当不加磁场时，测得的是待测元素原子和背景吸收值；当加磁场后，用一静止的偏振器只允许σ成分通过，所以只测得背景吸收值。
4.5光谱干扰及消除方法5.5.1光谱通带内有一条以上的吸收线产生的干扰产生原因：
如果在光谱通带内有几条发射线，而且都参与吸收，这时便产生光谱干扰，如Mn吸收线279.482nm，还发射次灵敏线279.827nm和280.106nm，当这三条线都在光谱通带内时，后两条谱线将干扰第一条谱线的测定。
多重吸收线的干扰以过渡元素较多，尤其是Fe，Co，Ni等多谱线元素。
消除方法：
a.如果多重吸收线和主吸收线的波长相差不是很小，则可通过减小狭缝宽度的方法来消除这种干扰，但过小的狭缝宽度会使信噪比降低，影响测定精密度。
b.多重吸收线与主吸收线之间波长差很小，通过减小狭缝宽度难以消除干扰，采用另选吸收线。
5.5.2在光谱通带内有非吸收线的干扰产生原因：
非吸收线出现在光谱通带内，可以是待测元素的谱线，如测Sb时，217.6nm共振吸收线附近还存在Sb217.9和217.0nm两条非吸收线；也可能是其他元素的谱线，如Pb灯中的微量Cu发射Cu216.5nm。
多元素空心阴极灯，由于发射较复杂，可能存在非吸收线的影响。
在光谱通带内存在非吸收线时，要降低测定灵敏度和引起标准曲线弯曲。
消除方法：
a.减小狭缝宽度，使光谱通带小到足以分开非吸收线。
b.在火焰中喷入待测元素的浓溶液，使共振线完全被吸收，而透过的光则为非吸收光，然后将非吸收线引起的残留响应读数调零。
c.吸收线重叠干扰几种元素的吸收线有相互重叠或十分接近的情况。
如果试样溶液中有谱线重叠或接近的两种元素，无论测定其中的任何一种元素，另一种元素可能产生干扰。
这种干扰使吸光度增加，造成正误差。
如以Fe217.905nm测定Fe的吸收时，由于Pt217.904nm的干扰，造成吸光度增加。
又如测Co时，Co253.649nm受Hg253.652nm重叠线的严重干扰。
谱线重叠干扰大小受吸收线和发射线轮廓、吸收线灵敏度，溶液浓度和两吸收线的波长差的影响。
5分析方法5.1标准曲线法a.理想的标准曲线：
火焰中的自由基态原从低浓度到高浓度始终保持相同的吸收能力；发射线除待测元素的原子吸收外，没有其他损失，全部进入检测系统。
银的标准曲线接近这理想情况。
b.曲线在较宽浓度范围内呈直线，在高浓度时，曲线向浓度轴弯曲，这是实际工作中最常见的情况。
产生弯曲的原因可能是：
1.非吸收线的影响。
当共振吸收线和未被吸收的非吸收线同时进入检测器时，吸收线的吸收受非吸收线的影响。
2.罗仑兹宽度的影响，当待测元素浓度增高时，原子蒸气的分压增大，罗伦兹变宽显著增加，吸收线加宽并发生位移，使吸光度降低。
3.浓度范围增大，溶液的物理特性变化而引起实际雾化效率，雾珠大小及其分布的改变，使基态原子数不能随溶液浓度的增加而成正比例的增加。
c.曲线在低浓度范围内呈直线，浓度高时，曲线向上弯曲。
原因是由于某些元素电离度随浓度不同而引起的。
在低含量时，电离度较大，基态原子数相对减少，吸光度下降较多；当含量增高时，电离度减小，基态原子数相对增多，吸光度相对增加。
在空气-乙炔火焰中测定Na、K时，可能出现标准曲线上弯的情况。
d.紧密内插法：
这种方法是选取标准曲线上接近的两点作为标准，试样溶液的浓度应位于两点之间（即C2>Cx>C1），根据吸光度和标准溶液浓度，按下式计算溶液浓度：
Cx=C1+（Ax-A1）*（C2-C1）/（A2-A1）5.2标准加入法当待测试样溶液的不完全确知时，则难以配制与待测试样溶液相似的标准溶液；或者试样溶液基体太复杂，以及试样溶液与标准溶液成分相差太大，为了减少差异（如溶液的成分、粘度等）而引起的误差，或者为了消除某些化学干扰，常用标准加入法。
5.3内标法内标法是标准溶液和试样溶液中分别加入第三种元素（内标元素），同时测定待测元素和内标元素的吸光度A、A0,并与吸光度之比A/A0与标准溶液浓度c绘制标准曲线。
6石墨炉原子吸收分析技术在石墨炉原子吸收光谱分析中，将一定重量或体积的试样加到石墨管中，经过程序升温或斜坡升温，尽可能地除去伴生元素，再通过快速升温，使待测元素原子化。
6.1石墨炉分析条件的选择在石墨炉原子吸收分析中，仪器参数如波长、光谱带宽和灯电流的选择，其原则和火焰原子吸收法相同。
6.1.1原子化器（石墨管种类）的选择a.普通石墨管。
普通石墨管的升华点低（3200℃），易氧化，使用温度一般限于2700℃以下，有很多孔隙，热的气体能自由地通过石墨管壁。
其不利因素是
（1）易生成难熔金属碳化物；
（2）其多孔性能引起试液或原子蒸气的渗透；（3）在高温下石墨管表面上的碳飞散能引起光散射，产生背景吸收。
b.热解石墨涂层管。
在普通石墨管涂上热解石墨涂层，就成热解石墨涂层管。
是通过将有机物（如甲烷、丙烷）的热解产物热解石墨沉积在普通石墨管的内表面制作而成的。
具有以下特点：
（1）致密性好，渗透率低，减少原子化时原子蒸气的扩散损失；
（2）耐高温，具有很高的升华点（3700℃），抗氧化性和化学腐蚀性较强，在3000℃时，管子仍可完好，对分析高温元素有利；（3）升温速度快，可减少元素原子化时间。
c.熔碳化物石墨涂层管。
应用易形成碳化物的元素的溶液处理石墨管表面，使之生成更难熔的碳化物。
通常在普通石墨管或热解涂层石墨管上涂覆Ta、Zr、W、La、Mo、Si、Ti、V、B、Hf、Y等的碳化物。
经过碳化物处理的石墨管可提高一些元素的灵敏度和延长使用寿命，而且是待测元素原子不与石墨管壁直接接触而难于生成难熔金属碳化物。
d.衬钽石墨管。
在普通石墨管中衬入高纯的高熔点的金属薄片卷成金属管，衬入钽片就是一种。
其特点是克服了样品溶液在石墨管上的渗透，消除了记忆效应，克服了原子蒸气的扩散作用，提高了低温元素的灵敏度，延长了石墨管的使用寿命。
6.1.2载气的选择一般采用惰性气体氩或氮作载气，通常使用的是氩气。
载气流量影响测定灵敏度和石墨管寿命。
6.1.3冷却水冷却水是使石墨管温度快速降至室温，通常使用水温为20℃左右，流量为1-2L/min。
6.1.4原子化升温程序在实际分析中，石墨炉分析技术最常用的程序阶段是干燥—灰化—原子化—热除残四个阶段。
a.干燥阶段。
目的是在低温下蒸发试样中的溶剂。
干燥温度取决于溶剂及样品中液态组分的沸点，一般选取的温度应略高于溶剂的沸点。
干燥时间主要取决样品的体积，一般10ЦL试样用10s。
b.灰化阶段。
目的是破坏试样中的有机质及通过挥发、热解尽可能地除去基体成分。
灰化温度取决于试样的基体及被测元素的性质，最高灰化温度以不使被测元素挥发为准则。
灰化温度和灰化时间应通过实验来确定。
c.原子化阶段。
在此阶段被测元素的化合物蒸发汽化、离解为基态原子。
一般在1600-2600℃，不同元素的原子化温度不同。
原子化时间就是待测元素完成原子化所需要的时间，原子化时间应尽量选短些，但应以原子化完全为准。
d.热除残阶段。
亦称净化阶段，使用更高的温度以完全除去石墨管中的残留样品，消除记忆效应。
6.2石墨炉平台技术1977年L’VOV等提出一种在原子化时能满足时间和空间要求等温条件，并能提高灵敏度和消除干扰的平台原子化技术。
就是在石墨管中央放置一个石墨平台，将样品放在平台上而不是放在石墨管的管壁上。
当石墨炉升温时，先管壁被加热，随后管壁的辐射再将平台加热，样品接受平台上的热量后发生干燥、灰化、原子化。
石墨炉平台技术的优点
（1）有利于减轻或消除基体引起的化学干扰和背景吸收；
（2）有利于减轻或消除基体引起的物理干扰。
6.3基体改进技术基体改进技术是指在待测样品溶液中加入某种化学试剂，使基体成分转变为较容易挥发的化合物，或将待测元素转变为更加稳定的化合物，以便允许较高的灰化温度和在灰化阶段能更有效除去干扰基体的一种方法。
将石墨管焦化、金属碳化物涂层和在惰性气体中加入某些活性气体，无机化合物和有机化合物基体改进剂的应用统称为基体改进技术。
6.4基体改进剂基体改进剂分为无机化合物改进剂、有机化合物改进剂和活性气体改进剂三种。
无机化合物改进剂包括许多铵盐、无机酸、金属化合物和金属盐类。
如硝酸铵、硫酸铵、焦硫酸铵、磷酸二氢铵、硫化铵、硝酸、高氯酸、磷酸、盐酸、过氧化氢、
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