XRD选型论证报告.docx
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XRD选型论证报告
XRD选型论证报告
一、选型目的
1.1考察研发中心所需X射线衍射仪(XRD),随时为新品开发提供晶体结构等物相定性分析,降低开发成本。
二、选型原则
2.1满足现有产品及后续新型材料测试需求;
2.2设备要求:
测试精度高,工作稳定、操作简单,应用客户广泛;
2.3设备厂家加工能力强,售后服务好,能够及时提供技术服务。
三、XRD的结构及工作原理
X射线衍射仪主要由X射线管、测角仪、控制、记录和数据处理系统等部分组成。
图1X射线衍射仪构成方框图
3.1X射线管
图2X射线管示意图
3.2测角仪
图3测角仪构造示意图
G——衍射仪圆S——光源S1、S2——索拉狭缝DS——发射狭缝SS——限制狭缝
PS——接受狭缝P——试样H——试样台C——探测器E——支架K——刻度尺
测角仪有两个同轴转盘。
两个转盘可联动,亦可分立转动。
联动时大盘的转动角速度为小盘的两倍。
小转盘中心装有试样支架,放有试样P。
大转盘上放有接受狭缝RS和探测器C。
接受狭缝绕O转动的轨迹为衍射仪圆G。
衍射仪用的X光源为线焦,即X光在样品上的投影为线状。
光源应在衍射仪圆上。
测角仪台面上的刻度尺K用以读试样和接受狭缝的转动位置。
以光源S与轴O的联线与衍射仪圆的交点为两转盘的共同零点。
当θ为某镜面的布拉格角(即满足布拉格方程2dSinθ=λ)时,称2θ为衍射角。
探测器的转动速度为扫描速度。
由下图可以看出,样品不管多大,试样、光源、接收狭缝都在同一个圆上,且试样表面总与之相切,该圆即为聚焦圆。
因此,即使试样表面较大时,也可得到角宽度较小,峰强度较大的衍射线,从而提高分辨率与灵敏度。
图4测角仪的聚焦原理
3.3测角仪的狭缝系统
测角仪包含一套狭缝系统,以改变X光入射线和衍射线的光路。
其对衍射线的灵敏度影响痕大。
对衍射线的线形、峰背比(即衍射线的峰高与背底的比值)影响也很大。
图5测角仪的狭缝系统
说明:
线焦S、DS、SS、RS、测角仪转轴相互平行。
S1、S2为索拉狭缝。
发射狭缝DS决定X光入射线的发散角度,限制狭缝SS用于仅让X光衍射线通过接受狭缝RS进入探测器,以防止其他物件和空气的散射进入探测器,而增加灵敏度,提高峰背比。
接受狭缝RS决定了进入探测器的衍射线的角宽度,因此对衍射线形和分辨率影响很大。
由上图可看出,X光源的线焦垂直于衍射仪圆,所以X光入射线衍射线都有很多不平行于衍射仪圆,而且有较大的垂直发散度。
降低了仪器的灵敏度和分辨率。
为此在光路中放入两个索拉狭缝S1和S2,即一叠互相平行的金属薄片。
在狭缝系统中。
两个索拉狭缝一般不能更换。
其它则可根据需要更换。
3.4探测器
粉末衍射仪多用闪烁探测器,下图为其示意图。
整个探测器装在一密封的套子内,以防可见光进入。
一端为0.3mm厚的铍窗,X光光子穿过铍窗,就射入一块铊激活的碘化钠晶体,使其发蓝光,蓝光穿过晶体及光电倍增管的玻璃壳,造成大量电子到达阳极形成一个电流脉冲。
但是其脉冲一般很小,为此紧接着光电倍增管阳极要装一个前置放大器,把此脉冲作线性放大,然后再输往后续电子学系统。
图6闪烁探测器示意图
四、XRD的种类及选择
分类序号
类型
特点
1
转靶
转靶仪器工作时,阳极(靶材)转动,可以承受更大的功率。
转靶的光管,一般称为X射线发生器。
它由一个金属套,阴极,转靶,水系统和真空系统构成。
这些部件都是可以拆开,并单独更换。
阴极:
一般为很粗的钨丝,当钨丝烧断以后,可以自己更换。
普通的如果断了灯丝,也就是达到使用寿命了。
靶:
也就是阳极。
因为它在不断地转动,散热效果好,因此,光管的功率也就可以做得很高。
使用一段时间后,阳极上会有钨沉积,可以拆下来用砂纸擦几分钟,弄干净再放上去。
如果是普通光管,就只有放弃使用了。
因为阳极上沉积钨以后,会在衍射谱中出现钨的衍射峰。
当然,普通光管的真空度很高,不会用几天就出现这种情况。
但总有达到使用寿命的一天。
水系统:
与普通光管差不多,当然,可以做得更复杂一些,水流量更大一些,使冷却效果好一些。
真空系统:
普通光管是密封的,出厂时就已经抽成真空了,就不存在真空系统了。
而转靶光管是可拆的,因此,需要一个真空系统不停地抽真空。
目前使用的是一个机械泵加一个分子泵。
固定靶
固定靶仪器工作时,靶材是固定的。
使用的是普通光管,普通光管是密封的,不可拆卸。
2
θ/θ
探测器需要转动θ度,发生器转动θ度,样品不动
θ/2θ
探测器需要转动2θ度,发生器不动,样品转动θ度
3
玻璃光管
优点:
1.光管前端冷却,靶区工作温度得以保证;2.金属制的前端材料与金属壳的接触部分热膨胀率相同,X光束焦斑很稳定;3.玻璃体对真空的密封性最好。
4.光管寿命长
缺点:
1.质量重,测角仪设备需要较高的制造水平;2.制造成本高(可伐”合金的制造成品率低)。
频率淘汰。
陶瓷光管
优点:
1.质量轻;2.不要光管前端的冷却,以陶瓷材料耐受靶区的高温,降低光管的造价;3.比“可伐”合金的制造成品率高。
缺点:
1.由于光管前端不冷却,陶瓷与金属壳的接触部分热膨胀率不一样,使X光束焦斑有漂移;2.陶瓷材料是晶体物质,真空的密封性不如非晶玻璃体;3.光管寿命短。
4
闪烁计数器
传统的探测器
阵列探测器
多位置同时探测,效率高,信号强度大。
Ø大功率转靶适用于结晶度不高的样品测试,如矿物成份分析,我司样品一般结晶度较高,小功率固定靶设备即可满足要求
Ø我司样品为粉末状,若样品台转动存在样品脱落的风险,故测角仪应选择θ/θ型
综上,建议选择θ/θ型3kW固定靶X射线衍射仪并采用阵列式探测器。
五、XRD参数及价格比较
日本理学UltimaIV
德国布鲁克D8Advance
日本岛津XRD-7000
X射线管
X射线管类型
铜靶,陶瓷管
铜靶,陶瓷管
铜靶,陶瓷管
靶形式
固定靶
固定靶
固定靶
功率
2.2kW
2.2kW
2.2kW
最大电压
60kV
60kV
60kV
最大电流
80mA
80mA
80mA
光管尺寸
标准尺寸
标准尺寸
?
光管焦斑
0.4×12mm
0.4×12mm
2×12mm
质保期
4000h或两年
4000h或两年
?
X射线发生器
最大输出功率
3kW
≥2.2kW
3kW
稳定度
±0.005%
±0.005%
±0.005%
机箱
安全防护
≤0.1µSv/h
安全连锁机构、剂量符合国标
≤0.2µSv/h
两套独立的安全电路,充分确保人身安全;
通过欧洲及联邦德国安全论证
1µSv/h
门连锁机构(确认门关闭后,产生X射线)
尺寸
1100×840×1630
1200×1200×1800
1120×1049×1790
测角仪
测角仪类型
θ/θ测角仪
θ/θ测角仪
θ/θ测角仪
测角仪半径
185/285mm
≥200mm
200-275mm
最小步进(θ)
0.0001°
0.0001°
0.0001°
扫描范围(2θ)
-3°~162°
-110°~168°
-12°~164°
角度重现性(2θ)
0.0001°
0.0001°
0.0002°
最高定位速度(2Theta)
2000°/min
1500°/min
1000°/min
驱动方式
步进马达驱动+光学编码器
光学编码器安装在测角仪轴上而非马达上,测量精度高,无丢转现象,无磨损。
步进马达驱动+光学编码器
步进马达驱动
探测器
探测器类型
DteX-Ultra阵列探测器
林克斯阵列探测器
闪烁计数器
Dtex-Ultra阵列探测器
林克斯阵列探测器
子探测器个数
280
192(保证无坏道)
最大计数
≥9x107cps
>1x108cps
平均每个子探测器的最大计数
—
7×105cps
背景
≤0.1cps
≤0.1cps
探测器效率
≥99%
>98%
备注
具有高计数模式及去除荧光背景模式功能特别适合各种微量样品,低含量样品,以及荧光背景强的样品等
日本理学UltimaIV
德国布鲁克D8Advance
日本岛津XRD-7000
基本配件及报价
3kW高频X射线发生器、X光管(Cu)、θ/θ广角测角仪、狭缝系统、防护罩、标准软件、铝样品架、玻璃样品架、Dtex-Ultra新型超高速探测器、水冷系统、电脑、打印机等,14.35万美元左右
陶瓷光管、机柜、发生器、样品台、固定装置、θ/θ测角仪、狭缝系统、软件、林克斯阵列探测器、水冷系统、电脑等,17万美元左右
X射线发生器、X光管、测角仪、闪烁计数器、外壳、水冷系统等,14万美元左右
可选附件及报价
新型电池原位附件,2万美元
正在开发电池原位附件(欲与我司合作)
无电池原位附件
XRD-DSC原位衍射-差热附件,10万美元
高低温原位附件,4.9万美元
无高温附件报价
市场情况
市场占有量30%,51台(2010年销量)
市场占有量>30%,66台(2010年销量)
市场占有量20%左右,23台(2010年销量)
联系方式
孙洪雨
135********
北京市海淀区西直门外大街168号腾达大厦2601A
单海平
137********
北京市海淀区中关村南大街11号光大国信大厦5201室
苏礼
139********
北京市朝阳区朝外大街16号中国人寿大厦14F
典型客户
天津力神电池有限公司、中科院北京物理所、天津电池研究所、北京矿冶研究总院
比亚迪、中科院物理所
清华大学材料科学与工程学院、西安交通大学
客户沟通
1.矿院矿产资源所肖所长:
做了一系列的调研,理学的设备做的数据最好,且价格低。
最终的成交价格为12.1万美元(做为商务谈判的参考);2.北大测试中心姜老师:
理学主营X射线衍射,附件种类齐全,文献数据多;布鲁克(原西门子)设备外观漂亮,高温附件较好;岛津设备稍高于国内水平(国内863项目以岛津设备为模板)
六、XRD设备图片及带料测试情况
6.1日本理学UltimaIV
6.2德国布鲁克D8Advance
6.3数据分析
样品一:
样品二:
样品三:
样品四:
Ø理学衍射强度较大,约为布鲁克的30倍
Ø理学测试结果噪音较低且分辨率高
七、结论
建议购买日本理学产UltimaIV型X射线衍射仪。
附件:
北京矿冶研究总院配置请单
X-rayDiffractmeter
X射线衍射装置
Model:
UltimaⅣ
Cat.No.
Descriptions
Qty
(A)
UltimaⅣBasicUnit
(基本单元)
1)3KWHigh-frequencyX-raygenerator
(3KW高频X射线发生器)
1
2)X-raytubeCu(cermictype)
(X光管Cu陶瓷光管)
1
3)Wideanglegoniometer(θ-θ)
(θ-θ广角测角仪)
1
4)VariableSlitsystem0.05-7.0mm
(可变狭缝0.05-7.0mm)
1
5)Radiationenclosurewithreleaseunit
(带释放单元的防护罩)
1
6)StandardSoftware
(标准软件)
1
AlSampleHolder20pcs/set
(铝样品架)
2
GlassSampleHolder0.5mmt20pcs/set
(玻璃样品架)
2
GlassSampleHolder0.2mmt20pcs/set
(玻璃样品架)
2
(B)
新型高速探测系统
Dtex-UltraHighSpeedDetector(Dtex-Ultra新型高速探测器)
1
(C)
追加光管
X-raytubeCu(cermictype)
(X光管Cu陶瓷光管)
1
(D)
标准Si样
StandardSiPower
(标准硅样)
1
(E)
PC&Coolingwater
在中国国内采购部分(ChinaProducts)
CPU:
PentiumIV3.0GHzormore
WindowsXP(E)160.0GB2GBLED:
21"
DVD-RWLaserPrinter
1
HeatexchangerforX-RayGenerator
(用于3KWX射线发生器冷却的热交换器)
1
编号
作者
工作单位
XRD
期刊源
1
MasakiYoshio
日本SagaUniversity
日本Rigaku
Rint1000
ElectrochimicaActa45(1999)273±283
2
De-ChengLi
日本SagaUniversity
日本Rigaku
Rint1000
JournalofPowerSources132(2004)150–155
3
MasayaKageyama
日本KanagawaUniversity,
日本Rigaku
Rint1000
JournalofPowerSources157(2006)494–500
4
HajimeArai
日本NTTTelecommunicationsEnergyLaboratories
RigakuRU-200,RAD-rX
JournalofTheElectrochemicalSociety,149(4)A401-A406(2002)
5
M.N.Obrovac,J.R.Dahna
加拿大DaihousieUniversity
SiemensD5000
SolidStateIonics112(1998)9–19
6
ChristopherS.Johnson
美国ArgonneNationalLaboratory
SiemensD5000
ElectrochemistryCommunications9(2007)787–795
7
IliasBelharouak,
美国ArgonneNationalLaboratory
SiemensD5000
ElectrochemistryCommunications8(2006)329–335
8
YoungsikKim
美国IowaStateUniversity
PhilipsPW1830
ElectrochimicaActa52(2006)1316–1322
9
YuanGao
美国FMCCorporation
Rigaku-2500
ElectrochemicalandSolid-StateLetters,1(3)117-119(1998)
10
SeoHeeJu
韩国KonkukUniversity
RigakuDmax-33
CeramicsInternational35(2009)1205–1210
11
SangHoPark
韩国ChonbukNationalUniversity
日本Rigaku,D:
Max-3A
ElectrochimicaActa46(2001)1215–1222
12
Myung-HyoonKima
韩国HanyangUniversity
Rigaku,Rint-2000
JournalofPowerSources159(2006)1328–1333
13
K.-S.Lee
韩国HanyangUniversity
Rigaku,Rint-2000
JournalofTheElectrochemicalSociety,15410A971-A9772007
14
JunhoEom
韩国HanyangUniversity
Rigaku
JournalofTheElectrochemicalSociety,1553A239-A2452008
15
S.B.Kim
韩国DaejungEMCo.LTD.
JSolidStateElectrochem(2010)14:
919–922
16
YaoChen
澳大利亚UniversityofWollongong
日本MacScience
JournalofPowerSources119–121(2003)184–188
17
Shao-KangHua
台湾科技大学
RigakuD/max-b
JournalofPowerSources188(2009)564–569
18
FengWu
北京理工大学
日本Rigaku,DMax-RD12Kw
JournalofPowerSources195(2010)2900–2904
19
FengWu
北京理工大学
日本Rigaku,DMax-RD12Kw
JournalofPowerSources191(2009)628–632
20
DaotanLiu
中科院物理所
Panalytical,X’pertProMPD
ElectrochimicaActa51(2006)4199–4203
21
YanhuaiDing
湘潭大学
D8Advance,Bruker
JournalofAlloysandCompounds487(2009)507–510
22
HuangYuan-Jun,
湘潭大学
RigakuRotaflexD/max-3C
MaterialsChemistryandPhysics106(2007)354–359
23
J.M.Zheng,Y.Yang
厦门大学
PANalyticalX'Pert
SolidStateIonics179(2008)1794–1799
24
X.Li
吉林大学
BrukerAXS
SolidStateIonics178(2008)1969–1974
25
N.V.Kosova
俄罗斯InstituteofSolidStateChemistryandMechanochemistry
DRON-3M
JournalofPowerSources174(2007)735–740
26
E.Shinova
BulgarianAcademyofSciences
BrukerAdvance8
SolidStateIonics179(2008)2198–2208
编制:
审核:
批准: