16LTEFDD干扰排查指导书要点.docx
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16LTEFDD干扰排查指导书要点
LTEFDD干扰排查指导书
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资料编号
资料更新说明
售后产品通用
文档第一次发布
作者
资料版本
日期
作者
审核者
批准者
2011-01-26
张世辉
2011-03-03
张世辉
适用对象：
基站侧开通人员、无线网优人员
1目的与范围3
2角色及职责3
项目经理3
干扰排查工程师3
运营商接口人3
3干扰排查流程4
干扰发现与数据采集5
干扰测试及定位方法7
系统内干扰测试及定位7
系统外干扰测试及定位9
频谱测试9
干扰频谱分析10
干扰定位10
干扰清除13
内部干扰清除13
外部干扰清除13
4参考资料13
附录A干扰排查基础知识14
频谱分布14
频点计算15
干扰定义17
泰克YBT250使用说明17
附录B干扰排查设备清单17
1
目的与范围
本指导书目的是为指导干扰排查工程师进行频谱测试及频谱分析，进而排查干扰源的过程，有效提高干扰排查工程师的工作效率。
本指导书适用于无线网络干扰排查项目，给出无线网络干扰排查的具体分析方法及排查干扰的过程，为干扰排查项目中实际干扰排查执行提供指导。
2角色及职责
在整个干扰排查过程中会涉及到许多不同的角色，也会出现一个工程师担任多个角色的情况。
和网络优化人员主要相关的角色和职责如下：
2.1项目经理
角色名称：
项目经理
角色描述：
项目经理一般来自代表处或者产品支持中心，总体负责项目需求分析及资源协调。
2.2干扰排查工程师
角色名称：
干扰排查工程师
角色描述：
负责干扰排查、定位及交流。
职责：
1.收集网络信息
2.制定干扰排查工作计划
3.具体执行干扰的排查与定位
4.参与同代表处、运营商的干扰排查交流
2.3运营商接口人
角色名称：
运营商接口人
角色描述：
负责干扰测试路线及测试点协调工作
3干扰排查流程
LTE是一个干扰受限系统，网络的质量、容量和覆盖都与背景噪声相关。
LTE系统遭受的干扰可以分为两部分，一部分是系统自身的干扰，包括手机之间的相互干扰，邻近小区对本小区的干扰等，这种干扰不可完全避免，但需要在网络规划和优化中尽量减少；另一部分是异常干扰，异常干扰包括上行异常干扰和下行异常干扰。
其中，上行异常干扰的危害更为严重，因为长时间高强度的上行干扰会影响基站的噪声水平，造成LTE基站上行覆盖的收缩，在上行干扰严重的情况下，手机有用信号会被噪声淹没而无法解调，这样用户感受可能是无法接入或出现掉话等现象，同时由于LTE系统的上行干扰影响了整个基站的用户，相对于某个或某几个用户的下行干扰来说，危害程度要严重。
本文主要讨论LTE系统上行异常干扰的分析和排查方法。
RSSI（ReceivedSignalStrengthIndication）是衡量eNodeB上行质量的关键指标，理想状态RSSI就是白噪声-174dBm/Hz，假设eNodeB的运行频带宽度为20MHz，等效于LTE信号的RSSI=20MHz，再加上2dB左右噪声系数，这样等效于eNodeB基站的底噪RSSI=20MHz，该值我们定义为正常状态的底噪。
实际RSSI数据可以通过OMC网管后台提取。
干扰对网络性能影响非常大，所以我们需要确认干扰存在，进而排除干扰。
干扰排查的流程图如下：
图31干扰排查流程
3.1干扰发现与数据采集
发现干扰的常用手段有路测扫频和网络运行指标监控。
利用扫频仪进行扫频能够对一定带宽的频段进行检测，但是这种方法要求使用扫频仪器进行反反复复的扫频工作，由于扫频仪器非常重而且扫频工作也非常辛苦，如果漫无目的的扫频，经常会出现扫频一天而徒劳无功。
因此应尽量利用现网运行指标的统计信息，对干扰情况进行分析和定位。
观察网络运行指标中的“平均RSSI”是最佳的发现网络上行干扰的手段。
在正常情况下，小区空载时的RSSI应该在左右;当RSSI在[，-94dbm]时，小区有轻度干扰，干扰多半来自于LTE系统内部的用户自干扰;当RSSI在[-94dbm，-85dbm]时，小区有中度干扰;干扰可能来自于LTE系统内部，也可能来自于系统外部，需要进行排查;当RSSI在-85dbm以上时，小区受到严重干扰，条件许可的话应该立即布置着手解决干扰问题。
“最大RSSI”建议仅仅作为判断时的参考，因为有可能是接入时的尖峰引起，甚至跟UE的算法和性能都有关系，因此建议不作为重点关注对象（目前OMC网管版本尚未提供“平均RSSI”、“最大RSSI”等网络运行指标，已提交RCS需求）。
由于我们碰到的上行干扰往往具有一天内不同时段干扰特性不同、一周内各天干扰特性不同的特点，因此跟踪越多的RSSI数据，对于上行干扰的定位是越有好处的，干扰数据采集有两种主要手段（都尚未实现）：
1.通过OMC网管上的性能统计工具采集一段时间内的小区平均RSSI数据（建议采集待定位小区一周七天，每天24小时的RSSI数据），用于判断RSSI的时间分布特征。
2.通过OMC网管上的频谱扫描工具，针对待定位小区开启频谱扫描功能，搜集一段时间内的频谱扫描数据，可获取到最新的RSSI实际情况。
目前网管系统已实现的功能是在诊断测试模块中实时查看RSSI数据。
图32RRURFS测试
图33RRU接收载波功率测试结果
另外，也可以通过eNodeB的MTS工具实时查看每个RB上的上行干扰情况。
图34MTS上的IOT查询结果
3.2干扰测试及定位方法
第一步：
系统内干扰测试及定位，具体见节，主要目的排除系统内功放杂散、双工器隔离度、天馈系统故障；根据实际情况可以不检查；
第二步：
系统外干扰测试及定位，具体见节；
第三步：
干扰清除，具体见节。
3.3系统内干扰测试及定位
系统内测试包括功放杂散测试、双工器隔离度测试及天馈系统测试，主要排除系统下行功率对系统上行接收产生干扰，此干扰的一个明显特征是基站扇区主集上行RSSI功率值高于分集上行RSSI功率值，关闭功放后，主分集上行RSSI恢复正常；对于用户表现为有信号不能正常呼叫。
因此此类干扰的排查次序是，先检查功放杂散测试，然后检查双工器隔离度测试，最后进行天馈系统测试。
下面以LTE系统为例介绍功放杂散、双工器隔离测试及天馈系统测试方法：
1、高功放杂散测试
对基站发射机带外辐射的限制体现为邻道泄漏功率比（ACLR）和工作频段非期望辐射两个指标要求。
工作频段非期望辐射定义为在下行工作频段（另加上上、下各10MHz过度频段）中所有非期望辐射的总和，该频段范围外的非期望辐射则属于是杂散辐射。
基站工作频段非期望辐射不应该超过表3-1、表3-2中给出的辐射电平值。
工作频段非期望辐射范围定义为:
[下行频带最低频点-10MHz，下行频带最高频点+10MHz]。
表中：
f是指新到边缘频点到测量滤波器的-3dB频点（靠近载波频率的那个-3dB频点）频差；
f_offset指的是测量滤波器中心频点到信道边缘频点的频差；
f_offsetmax指的是信道边缘频点到下行工作带宽外10MHz频点处的频差；
fmax等于f_offsetmax减去测量滤波器带宽的一半。
表31Generaloperatingbandunwantedemissionlimitsfor5,10,15and20MHzchannelbandwidth（E-UTRAbands<1GHz）forCategoryA
Frequencyoffsetofmeasurementfilter3dBpoint,f
Frequencyoffsetofmeasurementfiltercentrefrequency,f_offset
Minimumrequirement
Measurementbandwidth（Note1）
0MHzf<5MHz
MHzf_offset100kHz
5MHzf<
min（10MHz,fmax）
MHzf_offset<
minMHz,f_offsetmax）
-14dBm
100kHz
10MHzffmax
MHzf_offset-13dBm（Note5）
100kHz
表32Generaloperatingbandunwantedemissionlimitsfor5,10,15and20MHzchannelbandwidth（E-UTRAbands>1GHz）forCategoryB
Frequencyoffsetofmeasurementfilter3dBpoint,f
Frequencyoffsetofmeasurementfiltercentrefrequency,f_offset
Minimumrequirement
Measurementbandwidth（Note1）
0MHzf<5MHz
MHzf_offset100kHz
5MHzf<
min（10MHz,fmax）
MHzf_offset<
minMHz,f_offsetmax）
-14dBm
100kHz
10MHzffmax
MHzf_offset-15dBm（Note5）
1MHz
发射机杂散辐射，要求基站发射机杂散辐射功率不超过表3-3、表3-4的限制。
表33:
BSSpuriousemissionlimits,CategoryA
Frequencyrange
Maximumlevel
MeasurementBandwidth
9kHz150kHz
-13dBm
1kHz
150kHz30MHz
10kHz
30MHz1GHz
100kHz
1GHzGHz
1MHz
表33:
BSSpuriousemissionslimits,CategoryB
Frequencyrange
MaximumLevel
MeasurementBandwidth
9kHz150kHz
-36dBm
1kHz
150kHz30MHz
-36dBm
10kHz
30MHz1GHz
-36dBm
100kHz
1GHzGHz
-30dBm
1MHz
功放杂散测试测试点在双工器的Tx口，如功放输出杂散符合规范要求，则不会影响上行RSSI。
2、双工器隔离度测试
双工器隔离度的测试点是双工器的Rx口，在RX输出口测试大功率下TX衰减情况，从而判断双过器隔离度是否达标。
双工器的TX-RX抑制I约为后台查询的功率
减去天线口RX的功率
之差值，除去仪表和计算误差，收发隔离度应能保证并且有一定的裕量。
譬如：
。
3、天馈系统测试
通过前面的测试，如果功放杂散、双工器隔离度均满足要求，则通过关闭功放，观察基站主分集RSSI是否正常，如果主分集RSSI恢复正常，则说明可能是天馈系统故障，那么需要更换天线及馈线分别来测试；如果主分集RSSI仍然不正常，则可以判断干扰来自系统外，则需要按照系统外干扰测试方法进行排查定位。
另外，在LTE与2G共天馈系统中，由于合路器的性能或质量问题（如隔离度不够），很容易使GSM的杂散信号落入LTE的上行频带中。
此时可以尝试更换合路器，或在LTE与GSM合路前，对GSM增加一级G/L合路器，以滤除GSM带外的杂散，然后观察底噪是否恢复正常；如果正常，说明干扰是由于合路器隔离度不够造成的。
3.4系统外干扰测试及定位
3.4.1频谱测试
第一步：
明确干扰频谱测试任务，即是、等频段中的哪一种干扰排查；明确运营商的频带范围，干扰测试的频带范围主要是运营商的频带范围。
第二步：
明确干扰频谱测试是售前还是售后测试，对于售后下行干扰测试，需要关闭功放。
第三步：
对于售后干扰频谱测试，分析后台上行RSSI数据，分析干扰源是恒定存在还是分时段出现，便于选择干扰频谱测试时间；对于售前干扰频谱测试，就没有测试时间限制。
第四步：
选择测试点。
一般测试点选择在广电、政府大院、有线电视、居民区、大型电器商场、十字路口等附近。
乡村测试路线：
乡村一般选择定点测试，测试点选在规划基站附近及可能存在干扰的区域。
第五步：
按照泰克YBT250使用说明，依照第四步选择的测试点进行测试，建议泰克仪器的接收天线选择全向天线，泰克仪器的SPAN根据频带宽度选择，如果存在宽带干扰（泰克仪器显示的底噪大于根据RBW计算等效热噪声），可以适当增加SPAN进行测量，不过就要特别注意增加SPAN导致泰克频谱仪噪声底噪的抬高，有可能宽带干扰的幅值掩盖在泰克频谱仪的噪声底噪中，这时需要更精密的频谱仪进行测量。
第六步：
对于每一个测试点分别对上下行进行测试，记录出现干扰的频谱图、GPS信息。
对于窄带干扰，要充分利用泰克的干扰分析模块，具体见泰克YBT250使用说明。
第七步：
对于售后干扰排查，建议在基站双工器Rx测试口进行上行测试，由于双工器低噪放大器有30dB的增益，因此可以更好地发现上行干扰，同时保存干扰数据。
第八步：
整理干扰测试数据，输出频谱扫描报告
3.4.2干扰频谱分析
第一步：
对于窄带干扰，通过频谱测试第六步，能够区分此干扰是否为调频调幅波，如电台、广播、电话等，如果是调频调幅波，那么排查目标就很明确；
第二步：
通过现有的频点计算可能存在的三阶互调干扰；
第三步:
整理其它不属于上述的窄带干扰及可能的宽带干扰（譬如微波）；
3.4.3干扰定位
3.4.3.1干扰直观定位方法
此方法适用售后干扰排查，有两种比较直观的干扰定位方法，第一种利用MapInfo软件的干扰定位方法，第二种利用改变定向基站天线方向的工程干扰定位方法；
第一种利用MapInfo软件的干扰定位方法：
对于售后测试，可以利用MapInfo工具通过对基站上行RSSI数据分析，即分析上行RSSI高的基站扇区，找出这些扇区的交集，从而判定这些扇区交集可能是干扰存在的大致区域，具体如下图上行RSSI干扰分析中红色圆圈所示：
图35上行RSSI干扰分析
当然实际干扰定位发现干扰源的确在图中圆圈所在的区域；
第二种利用改变定向基站天线方向的工程干扰定位方法：
通过改变定向天线的方向，观察基站上行RSSI值的变化，记录天线上行RSSI最高时，天线的方向，此方向可能就是干扰潜在的方向。
此方法适用于干扰源只有一处的情况，如果干扰源多处存在，如有线电视放大器、电视增频器等干扰，就没有定位效果了。
3.4.3.2三点干扰定位方法
干扰定位实质是查找干扰源的过程。
干扰源的产生一般是有源器件产生，因此干扰排查时一定要特别注意有源器件，如微波、会议干扰机、有线电视放大器、电视增频仪等有源器件。
常用的方法是三点定区域，逐次逼近的方法。
所谓三点定区域是指对于存在的干扰频点，利用泰克干扰频谱仪使用定向天线在干扰附近测试三点，确定干扰所在的区域，具体如图所示。
所谓逐次逼近的方法是指在确定的干扰区域里，利用泰克干扰频谱仪使用定向天线按照仪器显示的干扰强度，多方向逐渐向干扰最强的位置逼近，最终发现干扰的方法。
图36干扰区域排查方法
对于互调干扰，一般通过关闭可能产生的干扰源的频点，然后通过频谱仪测试干扰频点是否消失，决定是否为互调干扰。
第一步：
在存在干扰的附近寻找三个点（至少）；
第二步：
在干扰附近寻找第一个点利用泰克干扰频谱仪使用定向天线进行360度测试，寻找最强的方向；沿着最强的方向向前寻找第二个点，要求在第二点测试时，在与第一个点相同的方向干扰强度比相反的方向的干扰强度弱；理论上通过上述两点就可以确定干扰源的大致位置，但是实际由于第二点的选择不一定完全就是第一点干扰强度的最强方向，因此需要选择第三点。
第三个点选择在第一点与第二点的垂直平分线上，实际不需要那么精确，但是至少不能三点共线，然后进行测试，确定干扰源大致区域（三点干扰强度最强的区域）；实际干扰排查时，有时在某一点在多个方向都出现强干扰，就很难确定干扰区域，如果出现这种情况，可能此干扰普遍存在，因此可以直接沿着某个最强方向采用逐次逼近的方法进行查找干扰源，一般此种干扰有共性，查找一处干扰源，其它处干扰源也就知道。
第三步：
在三点确定的区域进行测试，只能依靠逐次逼近的测试方法，依靠泰克干扰频谱仪使用定向天线逐渐查找最强的干扰强度，定位干扰源；
第四步：
记录干扰源的频谱强度，GPS信息，并使用数码相机记录干扰源实体的照片。
第五步：
依次排查所有的干扰频率的干扰源。
3.5干扰清除
3.5.1内部干扰清除
对于内部系统产生的干扰，常用解决措施如下：
1.检查天馈器件。
对于松动的连接头，把他们拧紧，对于坏掉或者老化了的器件，进行更换，对于破损的馈缆进行更换，对于弯曲过大的馈线，减少它们的弯曲弧度。
对于性能指标低的器件，换用性能指标高的器件。
2.修改频点。
在共天馈系统中，由于2G一个小区可能采用多个频点，频点之间可能会互调产生干扰，当检查出确实是频点设置不合理产生了互调干扰，可以协商修改2G频点解决。
3.如检查出是基站设备本身的问题的话，需更换相应基站设备组件。
3.5.2外部干扰清除
对于外部干扰，要根据具体情况找出不同的解决方式，常用解决措施如下：
1.通过调整LTE系统的天线位置，方位角，下倾角，高度等，使天线主瓣背离干扰源，增加LTE系统与干扰源的空间隔离度。
2.如果经过确认是周围一些金属物体导致了很强的互调产物时，就需要移开这些物体，如果这些物体不能移动，可以移动一下天线位置，看看能不能解决问题。
3.修改频点，避免三阶互调产物落在LTE的接收频段内。
由于外部信号的频点一般无法改变，只能修改本系统的频点，比如共站址时，当本运营商的2G频点与其他运营商的频点产生的互调产物，落在本运营商的LTE频段时，可以通过修改本运营商的2G频点来改变，当然，对2G频点进行修改有时候很麻烦。
4.增加滤波器。
当干扰源是PHS基站或基站时，其对LTE基站的干扰以杂散干扰为主，需与相关运营商协商为干扰源安装滤波器，以减轻对LTE系统的干扰。
必要时可以申请当地无线电委员会出面协调解决。
5.修改干扰源设备参数。
当干扰源是直放站或干放等放大设备时，可以修改其上下行增益，以改善自激，减轻对施主基站和周边基站的干扰。
6.关闭干扰源。
4参考资料
1．CDMA干扰排查指导书
2．频谱扫描指导书
3．TekYBT250使用傻瓜书
4．3GPP协议
附录A干扰排查基础知识
A.1频谱分布
干扰排查工程师在干扰排查前必须了解频谱的使用范围，频谱分配具体见参考文献3，由于不同国家对频谱分配不同，因此干扰排查工程师需要了解具体的频谱分布情况。
下面介绍常见的LTE系统的频谱分布。
EUTRAOperatingBand
Uplink（UL）operatingband
Downlink（DL）operatingband
DuplexMode
BSreceive
BStransmit
UEtransmit
UEreceive
FUL_low–FUL_high
FDL_low–FDL_high
1
1920MHz
–
1980MHz
2110MHz
–
2170MHz
FDD
2
1850MHz
–
1910MHz
1930MHz
–
1990MHz
FDD
3
1710MHz
–
1785MHz
1805MHz
–
1880MHz
FDD
4
1710MHz
–
1755MHz
2110MHz
–
2155MHz
FDD
5
824MHz
–
849MHz
869MHz
–
894MHz
FDD
6
830MHz
–
840MHz
875MHz
–
885MHz
FDD
7
2500MHz
–
2570MHz
2620MHz
–
2690MHz
FDD
8
880MHz
–
915MHz
925MHz
–
960MHz
FDD
9
MHz
–
MHz
MHz
–
MHz
FDD
10
1710MHz
–
1770MHz
2110MHz
–
2170MHz
FDD
11
MHz
–
MHz
MHz
–
MHz
FDD
12
698MHz
–
716MHz
728MHz
–
746MHz
FDD
13
777MHz
–
787MHz
746MHz
–
756MHz
FDD
14
788MHz
–
798MHz
758MHz
–
768MHz
FDD
…
17
704MHz
–
716MHz
734MHz
–
746MHz
FDD
...
33
1900MHz
–
1920MHz
1900MHz
–
1920MHz
TDD
34
2010MHz
–
2025MHz
2010MHz
–
2025MHz
TDD
35
1850MHz
–
1910MHz
1850MHz
–
1910MHz
TDD
36
1930MHz
–
1990MHz
1930MHz
–
1990MHz
TDD
37
1910MHz
–
1930MHz
1910MHz
–
1930MHz
TDD
38
2570MHz
–
2620MHz
2570MHz
–
2620MHz
TDD
39
1880MHz
–
1920MHz
1880MHz
–
1920MHz
TDD
40
2300MHz
–
2400MHz
2300MHz
–
2400MHz
TDD
根据客户的要求，可以调整频谱测试范围，要求上下行频谱测试范围满足下面的要求：
Band1相差180M；
Band7相差120M；
…
A.2频点计算
LTE系统的工作频点计算公式为：
上行中心频点：
FUL=FUL_low+（NUL–NOffs-UL）
下行中心频点：
FDL=FDL_low+（NDL–NOffs-DL）
E-UTRAOpe
升级会员 